探針臺
Probe Stations
低維材料
2D Material Transfer Platform
光電測試系統(tǒng)
Optoelectronic test system
光學平臺與光學面包板
Optical platform and breadboard
光波導耦合系統(tǒng)
Optical waveguide coupling system
光源
Light Source
OCT 成像系統(tǒng)
OCT Imaging System
光電探測與分析
Beam Measurement and Control
顯微觀察
Microscopic observation
運動控制
Motion Control
教學/科研光路系統(tǒng)
Scientific optical path system
微納材料表征測試服務(wù)
Other equipment and software
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工作波長覆蓋：200-1500nm；
光學分辨率：0.1-1.33nm（狹縫寬度25μm）；
用戶可訂制多種波長范圍及分辨率；
光纖光譜儀均采用對稱交叉Czerny-Turner光路；
應(yīng)用于激光光譜檢測、熒光光譜檢測、拉曼光譜檢測、LIBS光譜檢測等光譜測量；
二級制冷型InGaAs探測器；
低噪聲、高信噪比、低溫漂特性；
波長范圍：900-1700nm、1000-2500nm2種可選；
可根據(jù)客戶需求（狹縫、分辨率等）進行定制化服務(wù)；
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